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填空題

使用K型掃查陣列式探頭增加晶片對(duì)數(shù)主要是為了提高對(duì)焊縫的（）。

答案：掃查密度

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探傷儀測(cè)距按深度調(diào)節(jié)，全長(zhǎng)為鋼中橫波200mm，用K2探頭探測(cè)厚80mm試件，在6．3格發(fā)現(xiàn)一缺陷，則缺陷至探頭入射點(diǎn)水平距離是（）。

答案： 252mm

當(dāng)縱波反射角為90°時(shí)的橫波入射角稱(chēng)為（）。

答案：第三臨界角