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填空題
探頭晶片尺寸(),近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度增加,對(duì)近表面的缺陷探測(cè)不利。
答案:
增大
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斜探頭主要用于探測(cè)與探測(cè)面()或成一定角度的缺陷。
答案:
垂直
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填空題
探頭的選定頻率下限則由探傷靈敏度、脈沖寬度及()決定。
答案:
指向性
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