A、厚度大于等于三倍近場長度,工件表面光潔度大于等于3.2μm,探測面與底面平行 B、厚度大于等于三倍近場長度,工件表面粗糙,探測面與底面平行 C、厚度小于等于三倍近場長度,工件表面粗糙,探測面與底面不平行
A、大于Φ2mm平底孔 B、小于Φ2mm平底孔 C、等于Φ2mm平底孔
A、平底孔 B、粗細均勻的長條形缺陷 C、粗細不均勻的長條形缺陷