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【簡(jiǎn)答題】何謂Defect?
答案:
Wafer上存在的有形污染與不完美,包括
① Wafer上的物理性異物(如:微塵,工藝殘留物,不正常...
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答案:
藉由分析產(chǎn)品失效或線(xiàn)上缺陷監(jiān)控等資料,而發(fā)掘重點(diǎn)改善目標(biāo)。持續(xù)不斷推動(dòng)機(jī)臺(tái)與工藝缺陷改善活動(dòng),降低defect&ensp...
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