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問答題
【簡(jiǎn)答題】什么是IC可靠性？什么是老化測(cè)試？
答案：
IC可靠性是指器件在其預(yù)期壽命內(nèi)，在其使用環(huán)境中正常工作的概率，換句話說就是集成電路能正常使用多長(zhǎng)時(shí)間。老化測(cè)試在很苛刻...
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問答題
【簡(jiǎn)答題】例舉并解釋5個(gè)進(jìn)行在線參數(shù)測(cè)試的理由。
答案：
五個(gè)進(jìn)行在線參數(shù)測(cè)試的理由為：
（1）鑒別工藝問題：硅片制造過程中工藝問題的早期鑒定（而不是等到已經(jīng)完成了硅片...
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問答題
【簡(jiǎn)答題】例舉并描述IC生產(chǎn)過程中的5種不同電學(xué)測(cè)試。
答案：
IC生產(chǎn)過程中的5種不同電學(xué)測(cè)試：
（1）IC設(shè)計(jì)驗(yàn)證：描述、調(diào)試和檢驗(yàn)新的芯片設(shè)計(jì)，保證符合規(guī)格要求，是在生...
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