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單項(xiàng)選擇題
已知MOS結(jié)構(gòu)的硅襯底費(fèi)米勢(shì)大于0,則該材料中的電子濃度()空穴濃度。
A.大于
B.小于
C.等于
D.無(wú)法判斷
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單項(xiàng)選擇題
N型硅襯底的MOS結(jié)構(gòu),當(dāng)其柵極施加()偏壓時(shí),半導(dǎo)體表面附近會(huì)形成一層()層。
A.正,電子積累
B.負(fù),電子積累
C.正,空穴反型層
D.正,電子反型層
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單項(xiàng)選擇題
一個(gè)以N-Si為襯底的理想MOS結(jié)構(gòu)中,其閾值電壓應(yīng)該是()的,積累狀態(tài)時(shí)所加的柵電壓應(yīng)該是()的
A.正,正
B.正,負(fù)
C.負(fù),正
D.負(fù),負(fù)
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